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日本中央制作所電鍍厚度測量儀TH-11 它是一種破壞性測量儀器，可用于電鍍的質量控制，并具有多種可測量的電鍍類型。
更新日期：2022-05-25 訪問量：43
CT-Gauge DX日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測儀
日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測儀CT-Gauge DX 自初的模型以來已經過去了七年。在此期間，我們克服了許多問題， 對機械和軟件進行了全面改進，進一步擴展了功能。
更新日期：2022-03-08 訪問量：92
日本yamabun薄膜接觸式測厚儀TOF-4R05 由于是通過自動運輸測量，所以測量數據沒有個體差異。 也可用于調整雷達圖上的充氣膜。 由于測量是通過夾入法進行的，因此即使是有纏繞習慣等的厚片也可以測量。
更新日期：2022-02-18 訪問量：107
日本densoku鍍層測厚儀GCT-311 改進的可操作性和增強的功能 通過使用個人計算機，提高了可操作性并增強了功能。 易于數據處理 使用Windows規范可以輕松完成數據處理。
更新日期：2022-01-04 訪問量：141
日本富士fujiwork在線式薄膜測厚儀FT-A200 FT-A200測量范圍/ 10μm至200μm * 2 FT-A200R測量范圍/ 3μm至100μm * 2
更新日期：2021-12-24 訪問量：131
日本富士fujiwork薄膜連續測厚儀FT-A200 1線性度是顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。
更新日期：2021-12-24 訪問量：130
日本daiei針織物測厚儀FS-60DS 可以安裝多種類型的壓腳和負載重量，以滿足各種標準，其中測量的壓力和壓腳直徑因測量對象而異。
更新日期：2021-12-24 訪問量：121
日本daiei紡織品測厚儀FS-60DS CR-10A型主要適用于一般機織物和地板覆蓋物，FS-60DS型適用于毛織物和針織物。
更新日期：2021-12-24 訪問量：125
日本daiei大榮科學測厚儀FS-60DS 一種測量織物、地板覆蓋物、薄膜、橡膠、聚氨酯泡沫等厚度的設備。
更新日期：2021-08-11 訪問量：196
日本sasaki koki半導體用金屬非接觸式測厚儀OZUMA22 精確控制上、下測量噴嘴的背壓，噴嘴定位使噴嘴與被測物體之間的間隙恒定，并與預先用基準規校準的值進行比較計算處理對被測物體進行測量操作，可精確計算厚度。
更新日期：2021-07-22 訪問量：194
日本sasaki koki半導體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測量裝置（非接觸式厚度測量裝置） . 非接觸式測厚儀OZUMA22用于控制半導體晶片（Si硅晶片、GaAs、鎵（Ga）砷（As））在背面拋光過程中，或在每個制造過程中的厚度（厚度）?？捎糜冢ê穸龋┛刂频姆墙佑|式測量。
更新日期：2021-07-02 訪問量：147
日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個簡單的磁性測厚儀，可以重復地測量非磁性材料以高準確度的壁厚。操作非常簡單，小球或盤稱為目標材料，電線，放置在或在測量對象一側上，通過在接觸與磁性探測從相反側你掃描，以夾住工件。使用霍爾效應測量探針和靶材料，并實時顯示一個大的顯示器上的測量值之間的距離的傳感器。
更新日期：2021-07-01 訪問量：170
日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS 創新的 38DL PLUS 預示著超聲波測厚儀的新時代。該手持式測厚儀適用于大多數超聲波壁厚測量的檢測應用，可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用。38DL PLUS 可用于廣泛的應用，從使用雙振蕩器型探頭對內部腐蝕管道的減薄測量到使用單振蕩器型探頭對薄或多層材料的精確厚度測量。
更新日期：2021-07-01 訪問量：141
日本olympus超聲波測厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標準的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測量探頭，可用于廣泛的應用。
更新日期：2021-07-01 訪問量：168
日本olympus超聲波測厚儀27MG 超聲波測厚儀27MG可以從一側準確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設備結構的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體工程學設計，單手操作更方便。
更新日期：2021-07-01 訪問量：180
